在開(kāi)關(guān)零部件中，我們已經(jīng)認(rèn)識(shí)了廣泛的輕觸開(kāi)關(guān)，也接觸到了能夠?qū)崿F(xiàn)自鎖功能和無(wú)鎖功能的自無(wú)鎖開(kāi)關(guān)。那么今天來(lái)介紹一個(gè)新的開(kāi)關(guān)類(lèi)別，那就是檢測(cè)開(kāi)關(guān)。檢測(cè)開(kāi)關(guān)是跟其他電路元件接在一起，用來(lái)檢測(cè)元件或電路的參數(shù)（如電流，電壓等）的一種開(kāi)關(guān)，檢測(cè)開(kāi)關(guān)具有感應(yīng)功能，主體通常為各種感應(yīng)開(kāi)關(guān)或接近開(kāi)關(guān)，需要外接電源才能工作。檢測(cè)開(kāi)關(guān)能夠被眾多終端商使用，主要是具備感應(yīng)功能。
它的使用范圍也是非常廣泛的：AV方向主要是應(yīng)用在：攝像機(jī)和游戲機(jī)上 車(chē)載方向有車(chē)載CD，ETC以及車(chē)載空間 ICT 方向DSC，PC用移動(dòng)光驅(qū)，智能手機(jī)等。
檢測(cè)開(kāi)關(guān)根據(jù)其用途的輸出方法：
1. 接點(diǎn)輸出式
以微型開(kāi)關(guān)、限位開(kāi)關(guān)、繼電器的接點(diǎn)為輸出的開(kāi)關(guān)要素，與電磁開(kāi)關(guān)、小型馬達(dá)、電磁器等連接作為主要目的，可進(jìn)行數(shù)安培電流的開(kāi)關(guān)控制。與電子控制設(shè)備連接時(shí)，需注意振動(dòng)時(shí)間、最小負(fù)荷電流。
2. 光電耦合輸出式
檢測(cè)電路電氣絕緣，與接點(diǎn)輸出式的使用方法相同?？煽刂?/span>10～50mA電流的開(kāi)關(guān)。
3. 直流3線(xiàn)式
a. 電壓輸出型
進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，向負(fù)荷輸出電壓信號(hào)。電壓輸出型主要是以連接由電子計(jì)數(shù)器、無(wú)接點(diǎn)繼電器等的晶體管或IC構(gòu)成的電子控制設(shè)備為目的而制造的。
b. 電流輸出型
亦可稱(chēng)為開(kāi)放、集電極輸出型。輸出晶體管動(dòng)作時(shí)，有吸入電流的NPN型(電流吸收)和吐出電流的PNP型(電流源)。輸出晶體管中使用小容量的功率晶體管，則可進(jìn)行50～200mA電流的開(kāi)關(guān)，并可直接進(jìn)行電磁繼電器、電磁閥、直流電磁器、顯示燈等負(fù)荷的驅(qū)動(dòng)。
4. 直流2線(xiàn)式
該方式的接近開(kāi)關(guān)有2根導(dǎo)線(xiàn)，因此，使用時(shí)對(duì)極性予以注意的話(huà)，不僅使用方法可與機(jī)械式限位開(kāi)關(guān)相同，而且配線(xiàn)簡(jiǎn)單，但需注意下述狀況。
即使開(kāi)關(guān)處于關(guān)閉狀態(tài)，也需向接近開(kāi)關(guān)的檢測(cè)電路供給電流。為此，負(fù)荷中有微量電流流動(dòng)。
（1）該電流稱(chēng)為漏電流。漏電流時(shí)，負(fù)荷兩端產(chǎn)生漏電流×負(fù)荷也是造成使用初期故障的原因。初期故障的發(fā)生時(shí)間，根據(jù)制造方法的不同而不同，不能一概而論，一般多發(fā)生在使用開(kāi)始后的一星期到10天內(nèi)。
（2）偶發(fā)故障
包括由于半導(dǎo)體部件的不良而引起的故障，電阻、電容的斷線(xiàn)、短路、容量不足，電路板的電路斷裂、帶焊料等的不良現(xiàn)象，但發(fā)生率極低。接近開(kāi)關(guān)經(jīng)常發(fā)生故障時(shí)，可以考慮為使用環(huán)境的問(wèn)題。
（3）負(fù)荷短路與配線(xiàn)錯(cuò)誤
由于配線(xiàn)錯(cuò)誤或帶電作業(yè)引起負(fù)荷短路時(shí)，導(dǎo)致大電流流向檢測(cè)開(kāi)關(guān)，輸出回路燒毀。作為在檢測(cè)開(kāi)關(guān)外進(jìn)行的保護(hù)對(duì)策，可使用切斷快速短路電流的方法，通過(guò)熔斷器進(jìn)行保護(hù)，不僅可保護(hù)負(fù)荷短路，還對(duì)地線(xiàn)有保護(hù)作用。但是，由于開(kāi)關(guān)內(nèi)的輸出晶體管的殘余容量小，達(dá)不到100%的效果。
（4）干擾波導(dǎo)致的破損
由干擾波帶來(lái)的破損是慢慢形成的，因此在開(kāi)始使用后的一個(gè)月或二三個(gè)月后發(fā)生破損是極其普通的。因此，在該期間發(fā)生破損時(shí)，其原因則可判斷為干擾波。電感負(fù)載開(kāi)閉時(shí)發(fā)生的檢測(cè)開(kāi)關(guān)的瞬間錯(cuò)誤動(dòng)作是由干擾波造成的。
